CPUStress テスト (Device Fundamental)
CpuStress テストは、さまざまなプロセッサ使用率レベルでデバイス I/O テストを実行します。
CPUストレス
テスト | 説明 |
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プロセッサ使用率レベルが切り替わるデバイス I/O |
このテストは、高 (HPU) プロセッサ使用率レベルと低 (LPU) プロセッサ使用率レベルを交互にしながら、デバイス I/O テストを実行します。 テストバイナリ: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 試験方法: Device_IO_With_Varying_ProcUtil パラメーター:- 「デバイスの基本テストパラメーター」 を参照してください。 DQ PingPongPeriod HPU LPU TestCycles |
固定プロセッサ使用率レベルのデバイス I/O |
このテストは、プロセッサ使用率 (PU) レベルを固定パーセンテージに設定してデバイス I/O テストを実行します。 テストバイナリ: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 試験方法: Device_IO_With_Fixed_ProcUtil パラメーター:- 「デバイスの基本テストパラメーター」 を参照してください。 DQ IOPeriod PU |
プロセッサ使用率レベルが固定されたデバイス PNP |
このテストは、固定パーセンテージに設定されたプロセッサー使用率 (PU) レベルでデバイスの PNP テストを実行します。 テストバイナリ: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 試験方法: Device_PNP_With_Fixed_ProcUtil パラメーター:- 「デバイスの基本テストパラメーター」 を参照してください。 DQ TestCycles PU |
プロセッサ使用率を固定してスリープする |
このテストでは、プロセッサー使用率レベルを固定パーセンテージに設定して、システムをさまざまなスリープ状態に繰り返し実行します。 テストバイナリ: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 試験方法: Sleep_With_Fixed_ProcUtil パラメーター:- 「デバイスの基本テストパラメーター」 を参照してください。 TestCycles PU |
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