CPUStress テスト (Device Fundamental)

CpuStress テストは、さまざまなプロセッサ使用率レベルでデバイス I/O テストを実行します。

CPUストレス

テスト 説明

プロセッサ使用率レベルが切り替わるデバイス I/O

このテストは、高 (HPU) プロセッサ使用率レベルと低 (LPU) プロセッサ使用率レベルを交互にしながら、デバイス I/O テストを実行します。

テストバイナリ: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc

試験方法: Device_IO_With_Varying_ProcUtil

パラメーター:- 「デバイスの基本テストパラメーター」 を参照してください。

DQ

PingPongPeriod

HPU

LPU

TestCycles

固定プロセッサ使用率レベルのデバイス I/O

このテストは、プロセッサ使用率 (PU) レベルを固定パーセンテージに設定してデバイス I/O テストを実行します。

テストバイナリ: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc

試験方法: Device_IO_With_Fixed_ProcUtil

パラメーター:- 「デバイスの基本テストパラメーター」 を参照してください。

DQ

IOPeriod

PU

プロセッサ使用率レベルが固定されたデバイス PNP

このテストは、固定パーセンテージに設定されたプロセッサー使用率 (PU) レベルでデバイスの PNP テストを実行します。

テストバイナリ: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc

試験方法: Device_PNP_With_Fixed_ProcUtil

パラメーター:- 「デバイスの基本テストパラメーター」 を参照してください。

DQ

TestCycles

PU

プロセッサ使用率を固定してスリープする

このテストでは、プロセッサー使用率レベルを固定パーセンテージに設定して、システムをさまざまなスリープ状態に繰り返し実行します。

テストバイナリ: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc

試験方法: Sleep_With_Fixed_ProcUtil

パラメーター:- 「デバイスの基本テストパラメーター」 を参照してください。

TestCycles

PU

Visual Studio を使って実行時にドライバーをテストする方法

Device Fundamentalテストを選択して構成する方法

Device Fundamental のテスト

提供されている WDTF シンプル I/O プラグイン

コマンド プロンプトから実行時にドライバーをテストする方法