ドライバー検証ツールによるコンカレンシー ストレスを伴うランタイム電源重点ストレス
このテストでは、デバイスのさまざまな組み合わせで I/O を実行して、デバイスのアクティブとアイドル状態を切り替えます。 アクティブとアイドルのデバイスのさまざまな組み合わせを作成することで、PEP ロジックが完全に実行されることを確認できます。
テストの詳細
仕様 |
|
プラットフォーム |
|
サポートされているリリース |
|
予想される実行時間 (分) | 120 |
カテゴリ | 開発 |
タイムアウト (分) | 120 |
再起動が必要です | false |
特別な構成が必要です | false |
Type | automatic |
その他のドキュメント
この機能領域のテストには、前提条件、セットアップ、トラブルシューティング情報など、次のトピックに記載されている追加のドキュメントが含まれている場合があります。
トラブルシューティング
HLK テスト エラーの一般的なトラブルシューティングについては、「Windows HLK テストのエラーのトラブルシューティング」を参照してください。
トラブルシューティング情報については、「System Fundamentals テストのトラブルシューティング」を参照してください。
詳細情報
コマンド構文
コマンド オプション | 説明 |
---|---|
TE.exe /inproc /enablewttlogging /appendwttlogging rtpwrstresscuzz.dll /p:"TestCycles=[TestCycles]" /p:"DelayBetweenCycles=[DelayBetweenCycles]" /p:"IODuration=[IODuration]" /p:"VerifierFlags=[VerifierFlags]" /p:"TestTimeoutValue=[TestTimeoutValue]" /p:"OptTeCmdLineParams=[OptTeCmdLineParams]" |
テストを実行します。 |
Note
このテスト バイナリのコマンド ライン ヘルプを表示するには、「/h
」と入力します。
ファイル一覧
ファイル | 場所 |
---|---|
Rtpwrstresscuzz.dll |
[OSBinRoot]\ |
Te.exe |
[TAEFBinRoot]\ |
パラメーター
パラメーター名 | パラメーターの説明 |
---|---|
DQ | SDEL デバイス クエリ |
TestCycles | テスト サイクルの数 |
DelayBetweenCycles | 各テスト サイクル間の遅延時間 (ミリ秒) |
IODuration | I/O 待機時間 (ミリ秒) |
VerifierFlags | 有効にするドライバー検証ツールのフラグ |
TestTimeoutValue | te.exe の実行のタイムアウト値 |
OptTeCmdlineParams | te.exe のオプションのコマンド ライン パラメーター |