NVME_DEVICE_SELF_TEST_LOG 構造体 (nvme.h)

デバイス自己テストの状態、完了率、および結果を説明するデバイス自己テスト ログ ページの情報を指定するフィールドが含まれます。

この構造体は、ログ ページの取得コマンドによって返されます。 詳細については、「 NVME_CDW10_GET_LOG_PAGE」を参照してください。

構文

typedef struct {
  struct {
    UCHAR Status : 4;
    UCHAR Reserved : 4;
  } CurrentOperation;
  struct {
    UCHAR CompletePercent : 7;
    UCHAR Reserved : 1;
  } CurrentCompletion;
  UCHAR                             Reserved[2];
  NVME_DEVICE_SELF_TEST_RESULT_DATA ResultData[20];
} NVME_DEVICE_SELF_TEST_LOG, *PNVME_DEVICE_SELF_TEST_LOG;

メンバー

CurrentOperation

現在の Device Self-Test 操作を記述するフィールドを含む CurrentOperation 構造体。

CurrentOperation.Status

現在のデバイス Self-Test 操作の状態を示します。

CurrentOperation.Reserved

CurrentOperation 構造体の予約済みフィールド。

CurrentCompletion

Device Self-Test 操作の完了を記述するフィールドを含む CurrentCompletion 構造体。

CurrentCompletion.CompletePercent

デバイス Self-Test 操作の完了率を示します。 CurrentOperation.Status フィールドが 0 以外の場合、このフィールドは有効です。

CurrentCompletion.Reserved

CurrentCompletion 構造体の予約済みフィールド。

Reserved[2]

予約済みフィールド。

ResultData[20]

最後の 20 個の Device Self-Test 操作の結果データを含む 20 個のNVME_DEVICE_SELF_TEST_RESULT_DATA構造体の配列。最新から最も古い順に並べ替えられます。

要件