Устранение неполадок при тестировании надежности основ устройств с помощью Windows HLK
В этой статье описывается, как устранять неполадки, которые могут возникнуть при тестировании надежности оборудования Windows Hardware Lab Kit (Windows HLK) Device Fundamentals. См. раздел Устранение неполадок при тестировании Windows HLK.
Устранение неполадок, связанных с проверками надежности основ устройств, состоит из следующих основных этапов:
В следующих разделах содержатся дополнительные подробные и важные сведения, которые можно использовать для устранения неполадок, которые не удалось выполнить тесты надежности для основных устройств.
Сбор и просмотр трассировок Платформы тестирования устройств Windows (WDTF)
Просмотрите распространенные сбои теста надежности в разделе "Основы устройства"
Воспроизведите сбой теста, выполнив тест из командной строки.
Использование отладки ядра для отладки сбоев тестов надежности основ устройства
Проверка конфигурации устройства
Для тестирования надежности для тестирования устройств требуются правильно настроенные тестовые устройства для тестирования операций ввода-вывода. Прежде чем приступить к тестированию, убедитесь, что конфигурация теста соответствует предварительным требованиям для тестирования, описанным в разделе Предварительные требования для тестирования надежности Device.Fundamentals. Несоблюдение этих предварительных требований может привести к сбоям тестирования.
Определение типа сбоев теста
Сведения о конкретных типах сбоев тестов см. в разделе Устранение неполадок с тестами Windows HLK статьи Устранение неполадок при тестировании Windows HLK.
Тестирование регистрирует сбой
Наиболее распространенный способ сбой тестов надежности в Windows HLK для основных устройств — регистрация сбоя. Если неудачный тест зарегистрировал сбой, рекомендуется перейти к разделу Рассмотрение сбоев теста этой статьи.
Проверка ошибок в системе тестирования
Проверки системных ошибок часто встречаются во время тестов надежности "Основы устройства" из-за характера тестов (стресс, надежность, параллелизм и т. д.).
При исследовании сбоев, вызванных проверками системных ошибок, настоятельно рекомендуется повторно выполнить тесты, подключив тестовую систему к отладчику ядра. Выполнение тестов с помощью отладчика приводит к тому, что система переходит в отладчик при проверке системной ошибки.
Сведения о настройке отладчика ядра см. в разделе Настройка Kernel-Mode отладки вручную .
Дополнительные сведения см. в статье Использование отладки ядра для отладки ошибок тестирования надежности основных устройств .
Общие рекомендации по устранению неполадок при проверке системных ошибок при выполнении тестов Windows HLK см. в статье Устранение неполадок с тестами Windows HLK.
Тест зависает
Тестовые зависания часто возникают во время тестов надежности "Основы устройства". Зависания тестов обычно возникают, когда пакеты запросов ввода-вывода (IRP) (как правило, I/O и PNP IRP) зависают в драйверах и препятствуют выполнению тестов.
Примечание
Windows HLK в конечном итоге отменит и завершит зависание теста, чтобы следующий запланированный тест можно было продолжить.
Если тест зависает, настоятельно рекомендуется повторно запустить тесты, подключив тестовую систему к отладчику ядра. Это позволяет врваться в отладчик во время зависания теста и проверять трассировки стека процесса тестирования (тесты надежности устройств, как правило, выполняются какte.processhost.exe или te.exe).
Сведения о настройке отладчика ядра см. в разделе Настройка Kernel-Mode отладки вручную .
Дополнительные сведения см. в статье Использование отладки ядра для отладки ошибок тестирования надежности основных устройств .
Общие рекомендации по устранению неполадок тестов windows HLK во время выполнения тестов Windows HLK см. в статье Устранение неполадок при тестировании Windows HLK.
Сбои тестирования рассмотрения
Ознакомьтесь с документацией по тестированию
Тесты надежности устройств, как правило, тестируют распространенные пользовательские сценарии, такие как спящий режим с вводом-выводом, PNP с вводом-выводом, перезагрузка с вводом-выводом и т. д. Рекомендуется полностью изучить тестируемый сценарий для неудачных тестов, просмотрев соответствующую документацию по тестам на сайте Device.DevFund Tests.
Тщательный просмотр журналов тестирования
Необходимо тщательно изучить записи журнала, предшествующие фактическому сообщению об ошибке, чтобы получить четкое представление о текущем сценарии тестирования и предыдущих запущенных сценариях тестирования. Иногда предыдущие сценарии тестирования, которые выполнялись (даже если они были пройдены), влияют на следующий сценарий тестирования. Например, сбои ввода-вывода могут возникать после отключения и включения устройства. Дополнительные сведения о проверке журналов тестирования см. в разделе Просмотр файлов журналов.
Просмотр дополнительных файлов журналов, которые копируются обратно
Тесты надежности "Основы устройства" часто копируют дополнительные файлы, которые полезны для рассмотрения сбоев тестов. Например, тесты переустановки и PNP копируют журналы SetupAPI из тестовой системы. Откройте и просмотрите все файлы в разделе Дополнительные файлы на вкладке Результаты в Windows HLK Studio. Щелкните правой кнопкой мыши результат теста и выберите Пункт Дополнительные файлы.
Сбор и просмотр трассировок WDTF
Может быть полезно собирать и просматривать трассировки WDTF при устранении определенных сбоев тестов. Сведения о сборе и просмотре трассировок WDTF см. в статье Сбор и просмотр трассировок Windows Device Testing Framework (WDTF).
Как получить справку
Владельцы тестов надежности устройств в корпорации Майкрософт регулярно просматривают и отвечают на вопросы, опубликованные на форуме по тестированию оборудования и сертификации оборудования Windows, и отвечают на них. Мы рекомендуем использовать этот форум для получения необходимой поддержки.
Сведения о том, как открыть обращение в службу поддержки для исследования сбоев тестов, см. в разделе Поддержка Windows HLK .
Дополнительные ресурсы
В следующей таблице перечислены дополнительные ресурсы, которые помогут устранить проблемы, с которыми вы можете столкнуться во время тестирования основ устройства.
| Ресурс | Описание |
|---|---|
Общие рекомендации по рассмотрению и устранению неполадок при сбоях инфраструктуры Windows HLK. |
|
Общие рекомендации по рассмотрению и устранению неполадок для изучения сбоев тестов. |
|
Общие рекомендации по устранению неполадок, которые регистрируются в тестах на основе WDTF. |
|
Тесты надежности "Основы устройства" также входят в комплект драйверов Windows (WDK). Разработчики драйверов могут предпочесть использовать WDK и Microsoft Visual Studio для выполнения неудачных тестов для изучения сбоев тестов. На этой странице описывается, как выполнять тесты с помощью WDK. |
|
%ProgramFiles%\Windows Kits\8.1\Testing\Tests\Additional Tests\DeviceFundamentals.). |
Подмножество тестов надежности "Основы устройства" создается с помощью VBScript. Эти файлы скриптов можно открыть с помощью Блокнота. Скрипты находятся в указанной папке после установки WDK. |
Устранение неполадок с тестами "Основы устройства" с помощью WDK |
Предоставляет рекомендации по устранению проблем, которые могут возникнуть при использовании WDK для выполнения тестов по основам устройств. |