sample_c_lz (sm4 - asm)

執行比較篩選。此指令的行為就像 sample_c，但 LOD 是 0，而且會忽略衍生專案。

sample_c_lz[_aoffimmi (u，v，w) ] dest[.mask]， srcAddress[.swizzle]， srcResource.r， srcSampler， srcReferenceValue

項目	描述
dest	[in]作業結果的位址。
srcAddress	[in]一組紋理座標。如需詳細資訊，請參閱範例指示。
srcResource	[in]紋理暫存器。如需詳細資訊，請參閱範例指示。必須是 .r swizzle。
srcSampler	[in]取樣器暫存器。如需詳細資訊，請參閱範例指示。
srcReferenceValue	[in]選取單一元件的暫存器，用於比較。

備註

「lz」代表層級零。因為會忽略衍生專案，所以這個指令可在圖元著色器以外的著色器中使用。

如果這個指令搭配已套用的紋理使用，則 LOD 0 會取樣，除非取樣器有 LOD 限制，將 LOD 放在其他位置，或者如果有 LOD 偏差，這只會從 0 開始產生偏差。因為會忽略衍生專案，所以等向性篩選會以等向性篩選方式運作。

在圖元著色器中，當紋理座標衍生於著色器時，這個指令可以在不同的流程式控制件內使用，不同于 sample_c。

從沒有任何系結的輸入位置擷取會針對所有元件傳回 0。

此指示適用于所有著色器，而不只是圖元著色器，以取得一致性。

頂點著色器	幾何著色器	像素著色器
X	X	x

下列著色器模型中支援此函式。